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LCD/BLU/LED 光學量測系統(Nieo)
LED/光強/溫控光源量測(積分球)設備(J&C)
LCD/BLU/Film 3D視角/對比/太陽能面板/手持分光量測設備(J&C)
CCD 全面式光學量測/Mura tester(I System)
Win2
Win3(Eyescale 3W)
Eyescale 4W
圖型產生器(Unigraf)
高解析度圖型採集卡/視頻檢測(Unigraf)
輝度計/分光計(Topcon)
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CCD 全面式光學量測/Mura tester(I System)
Eyescale 4W
看出4W量化分析Mura的方式
可量化項目有：輝度Mura、色Mura、筋Mura、粉度 ( Hez )、色識別等
Win2
CCD 面式輝度,色度均勻度量測,可依連接不同的Lens 量測手機上的數字,車表板,CCFL,LED及LCD,LED,Light bar,或CCFL背光模組
Win3 (Eyescale 3W)
I system CCD 全面式光學量測: 數百點之光學特性,如輝度,色度等,不論暗態或亮態,均可以在5秒內完成
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