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LCD/BLU/LED 光學量測系統(Nieo)
BA533 背光光學量測系統
BA665 BLU_LCD平躺量測系統
LA1055 BLU_LCD直立5軸量測系統
輝度計/分光計(Topcon)
CCD 全面式光學量測/Mura tester(I System)
LCD/BLU/Film 3D視角/對比/太陽能面板/手持分光量測設備(J&C)
圖型產生器(Unigraf)
高解析度圖型採集卡/視頻檢測(Unigraf)
 
2011-03-31 TOPCON全新推出SR-LED系列產品
2011-03-16 歡迎您來參觀2011/06/14~06/16 臺灣平面顯示器展 尼奧光攤位: I 區 1219
2010-06-01 歡迎您來參觀2010/06/09~06/11 臺北平面顯示器展展 尼奧光攤位:B 727

 

感謝您來到尼奧光科技(Nieo E.O. Inc.)的網站, 我們可依照您對於BLU/ LED/LCD/PDP/PDA光學特性量測及規格的需求, 就技術面和您的預算上做規劃, 且提供Tocpon..之硬體設備整合 提供最完善,精準, 專業的軟硬體整合之全自動光特性量測解決方案!

  • Nieo LCD/LED/BLU 光學量測機制
  • 經軟硬體的整合, 進而達到各項光學量測, 如: 5,9,13點輝度位置均勻度, 輝度視角, 色度, 色飽和(NTSC%), 熱分析(輝度時間曲線圖), 對比, Gray scales, Response Time, Flicker, VESA, TCO03, TCO99, TCO05相關量測
  • 代理Topcon 輝度/分光計: 如SR-LED系列產品(全新發售)、BM7A, BM5AS, SC777, SR3A, SRUL1, Topcon CCD 量測機制UA1000
  • 代理日本I System CCD 量測機制, 可一次全面性量測輝度, 色度, 可節省量測時間: Win2, Win3

     

 

 
SR-LED系列產品
SR-LED系列產品
LED用於照明以及面板背光之用途已成為主流
因此TOPCON新推出 SR-LED系列產品以因應時下趨勢……
此產品可同時應用於 1.背光2.LED chip3.LED light bar 4.LCD&LCM 之量測
最重要的一點,搭配我司X,Y table 可進行全自動之量測,大大縮短測量之工時,也節省了許多人力物力。
SR-UL1R
SR-UL1R
以分光方式保證實現超低輝度0.005cd/㎡!!
無論超低輝度或高輝度高精度皆可測量!!
LA1055 BLU_LCD 直立5軸量測系統
LA1055 BLU_LCD 直立5軸量測系統
適用於背光模組、CCFL燈管、導光板、偏光板、MONITOR成品等產品從小尺寸到大尺寸,產品可平躺、垂直擺放等方式
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